平成27年春期試験問題 午前問23

半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として,適切なものはどれか。

  • クロックの周波数制御
  • 使用しないブロックへのクロック供給停止
  • 使用しないブロックへの電源供給停止
  • 電源,電圧の調整
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分野:テクノロジ系
中分類:ハードウェア
小分類:ハードウェア
解説
リーク電流とは、電子回路上で、絶縁されていて本来流れないはずの場所・経路で漏れ出す電流のことです。

リーク電流は伝導体間の距離が狭くなるにつれて増大していくため、集積回路の超微細化が進んだ現在では半導体回路で消費される電力の半分以上がリーク電流として消費されるようになってしまっています。リーク電流の大量発生は誤作動、消費電力や発熱量の増加、素子の劣化などを引き起こすのでリーク電流の低減は重要なテーマになっています。

回路設計でリーク電流を削減する技術の1つに「パワーゲーティング」があります。これは使用していない演算回路ブロックへの電源を遮断することでリーク電流を削減する技術です。
つまり正解は「ウ」です。

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